Mikroskop atomárních sil (AFM) s vysokoteplotní celou a elektrochemickým skenováním

Charakteristické vlastnosti:

• Unikátní systém pro mikroskopii atomárních sil (AFM) se standardním vybavením rozšířený o stabilizovanou vysokoteplotní celu a elektrochemické skenování.
• AFM ve standardní konfiguraci včetně STM (tunelovací mikroskopie) modulu.
• Toto základní vybavení bude doplněno o vysokoteplotní celu s možností ohřevu až do 250°C a dále pak o elektrochemické STM a AFM moduly.
• Požadovaná konfigurace umožní i měření elektrických vlastností povrchu materiálu na mikroměřítku.
• Požadované příslušenství k přístroji je: optický mikroskop s CCD kamerou pro manipulaci se vzorky, software pro zaznamenávání a zpracování dat, UPS systém pro stabilní napájení systému.

Účel pořizovaného vybavení:

• Hlavním důvodem pro pořízení tohoto unikátního uspořádání AFM je rozšíření a zkvalitnění vědecko-výzkumné činnosti v základním i aplikovaném výzkumu.
• Přístroj bude používán (podobně jako stávající AFM) ve výuce v rámci Laboratoře charakterizace nano a mikrosystémů, která je součástí nového bakalářského studijního programu Nano a mikrotechnologie v chemickém inženýrství. Tento moderní studijní program přitahuje perspektivní studenty a je tedy žádoucí jej podporovat kvalitním přístrojovým vybavením.
• V této konfiguraci bude AFM schopno pokrýt široké spektrum aplikací: studium vývoje morfologie polymerů a jejich tavenin při tepelném namáhání, elektrické vodivosti kompozitních materiálů, mapování adhezivních vlastností materiálů na širokém rozmezí teplot, sledování lokálních elektrochemických vlastností povrchů, sledování koroze a depozice kovů na mikroměřítku, studium morfologických změn elektrod pro úložiště energie během nabíjení/vybíjení a měření lokálních vlastností iontově výměnných membrán.