Nepřihlášený uživatel
Nacházíte se: VŠCHT Prahakvalab.vscht.cz → Klíčové vybavení → Skenovací elektronový mikroskop s lokální strukturní a chemickou analýzou (SEM – LSCA)
iduzel: 10857
idvazba: 12783
šablona: stranka
čas: 22.11.2017 02:57:22
verze: 3887
uzivatel:
remoteAPIs:
branch: trunk
Obnovit | RAW

Skenovací elektronový mikroskop s lokální strukturní a chemickou analýzou (SEM – LSCA)

→ Otevřená zakázka do 19.1.2015

Charakteristické vlastnosti

Špičkový duální elektronový mikroskop (s duálním iontovým svazkem) vybavený detektory pro lokální strukturní a chemickou analýzu. Přístroj se specifickou kombinací obrazových informací (sekundární elektrony, odražené elektrony, AFM/STM) s informacemi analytickými (EDS – prvková analýza, Raman – chemická analýza, detektor sekundárních iontů – koncentrační profil) a to vše se sub-mikrometrovým prostorovým rozlišením.

  • SEM s proměnným urychlovacím napětím, vybavený katodou s dlouhou životností, vysokou stabilitou a vysokým jasem. Je požadováno vysoké obrazové rozlišení a vysoké proudy pro potřeby použitých analytických metod. SEM bude vybaven detektory sekundárních a odražených elektronů.
  • Iontový svazek musí koincidovat se svazkem elektronovým, musí poskytovat vysoký jas a vysoké prostorové rozlišení. Iontový svazek musí umožnit v komoře iontové úpravy vzorku. Přístroj bude vybaven detektorem pro vytvoření obrazu sekundárních iontů.
  • Požaduje se práce ve vysokém vakuu. Je požadován automatický kompucentrický stolek, který umožní pracovat se vzorky s vysokou geometrickou variabilitou, bude se vyznačovat přesností a reprodukovatelností polohovaní vzorku.
  • Z místa pozorovaného pomocí sekundárních elektronů bude možné současně pořídit korespondující snímek pomocí mikroskopu atomárních sil/tunelovacího mikroskopu (AFM/STM).
  • Přístroj bude dále vybavený analytickými detektory, které budou doplňovat získané obrazové informace o analytická data. Detektory budou minimálně zahrnovat EDS pro snímání rtg. spektra, detekční systém pro lokální Ramanovu spektroskopii a spektrometr sekundárních iontů.
  • Přístroj bude zahrnovat odpovídající software umožňující vzájemnou korespondenci obrazů a spekter získaných různými technikami a software pro zpracování a vyhodnocení analytických spekter.

Účel pořizovaného vybavení:

  • Přístroj umožní získat lokální morfologickou informaci v různých zobrazovacích režimech kombinovanou s on-site chemickými (spektrálními) informacemi se sub-mikrometrovým prostorovým rozlišením.
  • Hlavním účelem pořízení tohoto přístroje je možnost kvalitního vědecko-výzkumného růstu v našich základních vědecko-výzkumných pilířích, obzvláště v materiálových oborech. Obeznámení a práce s přístrojem bude zařazeno do výuky v rámci specializovaných oborových předmětů. SEM-LSCA v plánované konfiguraci uspokojí i řadu požadavků aktuálně i v budoucnu vyučovaných oborů. Přístroj bude využíván i při řešení studentských závěrečných prací řešených v rámci dalších výzkumných projektů a to hlavně materiálových oborů FCHT a částečně FCHI. Přístroj budou využívat hlavně studenti doktorského a magisterského studia.
  • Přístroj posílí možnost zapojit se do nových projektů a navázat další výzkumné spolupráce s partnery v ČR i v zahraničí.
Aktualizováno: 2.12.2014 13:11, Autor: Lenka Matějová

A BUDOVA A
B BUDOVA B
C BUDOVA C
VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha 2014
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
zobrazit plnou verzi