→ Otevřená zakázka do 19.1.2015
Charakteristické vlastnosti
Špičkový duální elektronový mikroskop (s duálním iontovým svazkem) vybavený detektory pro lokální strukturní a chemickou analýzu. Přístroj se specifickou kombinací obrazových informací (sekundární elektrony, odražené elektrony, AFM/STM) s informacemi analytickými (EDS – prvková analýza, Raman – chemická analýza, detektor sekundárních iontů – koncentrační profil) a to vše se sub-mikrometrovým prostorovým rozlišením.
- SEM s proměnným urychlovacím napětím, vybavený katodou s dlouhou životností, vysokou stabilitou a vysokým jasem. Je požadováno vysoké obrazové rozlišení a vysoké proudy pro potřeby použitých analytických metod. SEM bude vybaven detektory sekundárních a odražených elektronů.
- Iontový svazek musí koincidovat se svazkem elektronovým, musí poskytovat vysoký jas a vysoké prostorové rozlišení. Iontový svazek musí umožnit v komoře iontové úpravy vzorku. Přístroj bude vybaven detektorem pro vytvoření obrazu sekundárních iontů.
- Požaduje se práce ve vysokém vakuu. Je požadován automatický kompucentrický stolek, který umožní pracovat se vzorky s vysokou geometrickou variabilitou, bude se vyznačovat přesností a reprodukovatelností polohovaní vzorku.
- Z místa pozorovaného pomocí sekundárních elektronů bude možné současně pořídit korespondující snímek pomocí mikroskopu atomárních sil/tunelovacího mikroskopu (AFM/STM).
- Přístroj bude dále vybavený analytickými detektory, které budou doplňovat získané obrazové informace o analytická data. Detektory budou minimálně zahrnovat EDS pro snímání rtg. spektra, detekční systém pro lokální Ramanovu spektroskopii a spektrometr sekundárních iontů.
- Přístroj bude zahrnovat odpovídající software umožňující vzájemnou korespondenci obrazů a spekter získaných různými technikami a software pro zpracování a vyhodnocení analytických spekter.
Účel pořizovaného vybavení:
- Přístroj umožní získat lokální morfologickou informaci v různých zobrazovacích režimech kombinovanou s on-site chemickými (spektrálními) informacemi se sub-mikrometrovým prostorovým rozlišením.
- Hlavním účelem pořízení tohoto přístroje je možnost kvalitního vědecko-výzkumného růstu v našich základních vědecko-výzkumných pilířích, obzvláště v materiálových oborech. Obeznámení a práce s přístrojem bude zařazeno do výuky v rámci specializovaných oborových předmětů. SEM-LSCA v plánované konfiguraci uspokojí i řadu požadavků aktuálně i v budoucnu vyučovaných oborů. Přístroj bude využíván i při řešení studentských závěrečných prací řešených v rámci dalších výzkumných projektů a to hlavně materiálových oborů FCHT a částečně FCHI. Přístroj budou využívat hlavně studenti doktorského a magisterského studia.
- Přístroj posílí možnost zapojit se do nových projektů a navázat další výzkumné spolupráce s partnery v ČR i v zahraničí.